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BT5680EOL直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀

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產(chǎn)品名稱: BT5680EOL直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀

產(chǎn)品型號(hào):

產(chǎn)品展商: 其它品牌

會(huì)員價(jià)格: 0.00 元

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簡(jiǎn)單介紹

BT5680EOL直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀

BT5680EOL直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀 的詳細(xì)介紹

BT5680EOL直流耐壓絕緣電阻測(cè)試儀

電池的**測(cè)試提供更優(yōu)化的檢測(cè)方案，通過波形分析提升電池的檢測(cè)品質(zhì)

為電池的**測(cè)試提供更優(yōu)化的檢測(cè)方案，通過波形分析提升電池的檢測(cè)品質(zhì)

● 準(zhǔn)確檢查絕緣性能，驗(yàn)證電池和電機(jī)質(zhì)量
● 通過波形和數(shù)值顯示有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序、對(duì)收回的不合格產(chǎn)品進(jìn)行分析、宣傳檢查的可靠性
● 防止因電弧放電導(dǎo)致微小故障品流出
● 防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測(cè)
● 支持廣泛的國際標(biāo)準(zhǔn)。搭載BDV（絕緣擊穿電壓）測(cè)量功能。

基本參數(shù)（精度保證時(shí)間1年）

主要功能	直流耐壓測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試、絕緣擊穿電壓測(cè)試、波形顯示功能、ARC放電檢測(cè)功能、接觸檢查功能 (詳情請(qǐng)參照“各測(cè)試·功能”表)
功能一覽	聯(lián)鎖、自動(dòng)放電、消除偏移、瞬時(shí)輸出、命令監(jiān)控、I/O HANDLER、按鍵鎖定、自檢、校準(zhǔn)期限檢測(cè)、EXT SW（遠(yuǎn)程控制）
使用溫濕度范圍	0°C～40°C，80% RH或以下（無結(jié)露）
適合標(biāo)準(zhǔn)	**性：IEC 61010 EMC：IEC 61326
電源電壓	AC 100 V ～ 240 V
功耗	約180 VA※ ※ 電源條件為電源電壓220 V、電源頻率 50/60 Hz、測(cè)試模式直流耐壓測(cè)試、測(cè)試電壓2.5 kV、負(fù)載電流5 mA負(fù)載電阻500 kΩ）的情況下。
*大額定功率	800 VA
接口	通訊：USB，LAN，EXT. I/O 選件：RS-232C（Z3001），GP-IB（Z3000）存儲(chǔ)：U盤
尺寸·重量	305（W）×142（H）×430（D）mm（不含突起物） 10.0 kg ± 0.2 kg
附件	電源線，CD-ROM（PDF：使用說明書，通訊使用說明書），EXT.I/O用公頭連接器，EXT.I/O用連接器蓋EXT.I/O用聯(lián)鎖解除治具，啟動(dòng)指南

各測(cè)試·功能

直流耐壓測(cè)試	輸出電壓：DC 0.050 kV ～ 3.000 kV(1 V分辨率) 輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 20 V）輸出電流/截止電流：20 mA max 電流精度（1）：3.00 mA ＜：±（1.5% rdg.＋2 μA）≤ 3.00 mA：±1.5% rdg. 小分辨率：0.001 μA 測(cè)試時(shí)間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF）電壓上升/下降時(shí)間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF 短路電流200 mA 以上測(cè)試模式W→IR，IR→W，程序測(cè)試
絕緣電阻測(cè)試	輸出電壓：DC 50 V ～ 1000 V(1 V分辨率) 輸出設(shè)置精度：±（1.2% of setting + 20 V）電阻值顯示范圍：100.00 kΩ ～ 200.0 GΩ（0.01 kΩ分辨率）精度保證范圍：100.00 kΩ ～ 99.99 GΩ 電阻精度：±（1.5% rdg. + 3 dgt.）*詳情參考下部表格測(cè)試時(shí)間：0.1 s ～ 999 s，Continue（Timer OFF）電壓上升/下降時(shí)間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF
絕緣擊穿電壓測(cè)試	測(cè)試方法：連續(xù)升壓測(cè)試，逐級(jí)升壓測(cè)試測(cè)量?jī)?nèi)容：絕緣擊穿電壓（kV），絕緣擊穿的強(qiáng)度（kV/mm）設(shè)定內(nèi)容：初始電壓，結(jié)束電壓，升壓速度，ARC檢測(cè)，電極間距離，電流上限值檢測(cè)有效電壓：150V以上
波形顯示功能	波形顯示內(nèi)容：電壓，電流，絕緣電阻采樣速度：500 kS/s 內(nèi)存容量：512 K words
ARC放電檢測(cè)功能	檢測(cè)方式：監(jiān)視試驗(yàn)測(cè)試電壓的變動(dòng) 設(shè)定內(nèi)容：測(cè)試電壓變動(dòng)率1％～50％檢測(cè)有效電壓：150V以上
存儲(chǔ)功能	·波形·圖形保存到U盤保存格式：BMP、PNG、CSV文件 ·面板保存功能將測(cè)試條件保存在主機(jī)內(nèi)存中直流耐壓測(cè)試模式/絕緣電阻測(cè)試模式：多64個(gè) 程序測(cè)試：多30個(gè)（多50步）絕緣擊穿電壓測(cè)試：多10個(gè) ·數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能測(cè)量值保存在內(nèi)存，*多32000個(gè)
判定功能（判定輸出）	判定為PASS，判定為FAIL（UPPER FAIL，LOWER FAIL） UPPER_FAIL：測(cè)量值＞上限值 PASS：上限值≥測(cè)量值≥下限值 LOWER_FAIL：測(cè)量值＜下限值
注記（*1）	環(huán)境溫度t不足5℃時(shí)加上±(1% rdg.×(5-t ) ) 環(huán)境溫度t超過35℃時(shí)加上±(1% rdg.×(t-35 ) )

絕緣電阻測(cè)量精度（*2）（精度保證測(cè)試電壓范圍：50 V ~ 2000 V）

測(cè)試范圍	100 kΩ ～ 99.99 GΩ
10 nA ≦ I ≦ 3 μA	100 MΩ ～ 999.9 MΩ 1.00 GΩ ～ 99.99 GΩ	±(20% rdg.)
100 nA ≦ I ≦ 30 μA	10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ 100.0 MΩ ～ 999.9 MΩ	±(5% rdg.)
1 μA ≦ I ≦ 300 μA	1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ 10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ	±(2% rdg. + 5 dgt.)
10 μA ≦ I ≦ 3 mA	100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ 1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ	±(1.5% rdg. +3 dgt.)
100 μA ≦ I ≦ 20 mA	100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ	±(1.5% rdg. +3 dgt.)
注記（*2）	· 測(cè)試電壓為50 V?99 V時(shí)，測(cè)量精度加算±10% · 測(cè)試電壓為100 V?999 V時(shí)，測(cè)量精度加算±5% · 測(cè)試電壓為1000 V?2000 V時(shí)，測(cè)量精度加算±2% · 環(huán)境溫度t小于5℃時(shí)，加上測(cè)量電流I < 100 nA:±(5% rdg.×(5-t ) )，或者加上測(cè)量電流I≧100 nA:±(1% rdg.×(5-t ) ) · 環(huán)境溫度t超過35℃時(shí)，加上測(cè)量電流I < 100 nA:±(5% rdg.×(t-35 ) )，或者加上測(cè)量電流I≧100 nA:±(1% rdg.×(t-35 ) ) · 測(cè)定速度為FAST2時(shí)，測(cè)量精度加倍